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恒奧德教您如何選購涂層測厚儀

測厚方法

磁性測厚法

適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量度。

渦流測厚法

適用導電金屬上的非導電層厚度測量，此種方法較磁性測厚法度低。

聲波測厚法

內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，外個別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但般價格昂貴、測量度也不。

電解測厚法

此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層，般度也不，測量起來較其他幾種麻煩。

放射測厚法

此種儀器價格非常昂貴（般在10RMB以上），適用于些特殊場合

選型方法

用戶可以根據(jù)測量的需要選用不同的測厚儀，磁性測厚儀和渦流測厚儀般測量的厚度適用0-5毫米，這類儀器又分探頭與主機體型，探頭與主機分離型，前者操作便捷，后者適用于測非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用聲波測厚儀來測，測量的厚度可以達到0.7-250毫米。電解法測厚儀適合測量很細的線上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。

兩用型

體兩用型

體兩用型(4張)

儀器由德生產(chǎn)，集合了磁性測厚儀和渦流測厚儀兩種儀器的能，可用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如：

* 鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。

* 鋁、鎂材料上陽氧化膜的厚度。

* 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。

* 鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。

* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。

儀器符合家標準GB/T4956和GB/T4957，可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗及質(zhì)量監(jiān)督檢驗。

分體兩用型

分體兩用型(4張)

儀器特點

采用雙能內(nèi)置式探頭，自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應的測量方式行確測量。

符合人體程學設計的雙顯示屏結(jié)構(gòu)，可以在何測量位置讀取測量數(shù)據(jù)。

采用手機菜單式能選擇方式，操作十分簡便。

可設定上下限值，測量結(jié)果出或符合上下限數(shù)值時，儀器會發(fā)出相應的聲音或閃爍燈提示。

穩(wěn)定性*，通常不校正便可長期使用。

術(shù)規(guī)格

量 程： 0～2000μm ,

電 源： 兩節(jié)5號電池

標準配置

常規(guī)型

對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關家和標準中稱為覆層（coating）。

覆層厚度測量已成為業(yè)、表面程質(zhì)量檢測的重要環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的手段。為使產(chǎn)品化，我出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的緣覆層測厚時采用。

隨著術(shù)的日益步，特別是近年來引入微機術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多能、度、實用化的方向了步。測量的分辨率已達0.1微米，度可達到1%，有了大幅度的提。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測作經(jīng)濟地行