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解析HAD-C910 測厚儀使用注意事項(xiàng)
點(diǎn)擊次數(shù):739      更新時間:2022-11-21


HAD-C910 測厚儀使用注意事項(xiàng)

 

主要類型

 

  用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制和檢修時須測量其厚度,以便了解材料的厚薄規(guī)格,各點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度;有時則要測定材料表面的覆蓋層厚度,以保證產(chǎn)量和生產(chǎn)安。根據(jù)測定原理的不同,常用測厚儀有聲、磁性、渦流、同位素等四種。

 

  聲波測厚儀聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的,但在同介質(zhì)中聲速是常數(shù)。聲波在介質(zhì)中傳播遇到二種介質(zhì)時會被反射,測量聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時間,即可將這間隔時間換算成厚度。在電力業(yè)中應(yīng)用廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度,也用于校核件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的,體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近,厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材,大測定厚度達(dá)2000 mm左右,度在±0.01~±0.1 mm之間。

 

  磁性測厚儀在測定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時,測定值會因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

 

  渦流測厚儀當(dāng)載有頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時,由于頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流,此渦流產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈,使其阻抗發(fā)生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān),因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他緣覆蓋層的厚度。

 

  同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理,可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

 

   使用注意事項(xiàng)

 

  測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,放射測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,聲波測厚法。

 

  測量注意事項(xiàng):

 

  在行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

 

  測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

 

  測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

 

  測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

 

  測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。

 

  測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,因?yàn)榘愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

 

  在測量時要保持壓力的恒定,否則會影響測量的讀數(shù)。

 

  在行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此聲波測厚儀在行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。