北京恒奧德儀器儀表有限公司
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磁電阻效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀型號;HAD-FD-MR-C
磁電阻效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀型號;HAD-FD-MR-C 磁電阻傳感器由于靈敏度、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)在業(yè)、交通、儀器儀表、療器械、探礦等域應(yīng)用十分廣泛,如:數(shù)字式羅盤、交通車輛檢測,導(dǎo)航系統(tǒng)、檢測、位置測量等。其中典型的銻化銦( InSb )傳感器是種價格低廉、靈敏度的磁電阻傳感器,有著十分重要的應(yīng)用價值。
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磁阻傳感器與地磁場實(shí)驗(yàn)儀HAD-FD-HMC-2
磁阻傳感器與地磁場實(shí)驗(yàn)儀HAD-FD-HMC-2 地磁場作為種天然磁源,在軍事、航空、航海、業(yè)、學(xué)、探礦等科研中有著重要用途。本儀器采用新型坡莫合金磁阻傳感器測量地磁場的重要參量,通過實(shí)驗(yàn)可以掌握磁阻傳感器定標(biāo)以及測量地磁場水平分量和磁傾角的方法,了解測量弱磁場的種重要手段和實(shí)驗(yàn)方法。
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磁電阻傳感器與地磁場實(shí)驗(yàn)儀HAD-FD-HMC-C
磁電阻傳感器與地磁場實(shí)驗(yàn)儀HAD-FD-HMC-C 地磁場作為種天然磁源,在軍事、航空、航海、業(yè)、學(xué)、探礦等科研中有著重要用途。本儀器采用新型坡莫合金磁阻傳感器測量地磁場的重要參量,通過實(shí)驗(yàn)可以掌握磁阻傳感器定標(biāo)以及測量地磁場水平分量和磁傾角的方法,了解測量弱磁場的種重要手段和實(shí)驗(yàn)方法
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非線性元件伏安性實(shí)驗(yàn)儀HASD-FD-UI-B
非線性元件伏安性實(shí)驗(yàn)儀HASD-FD-UI-B 非線性元件伏安性曲線的測量是?;A(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)課程的個重要實(shí)驗(yàn),也是科研中常用電磁學(xué)實(shí)驗(yàn)方法之。本儀器是根據(jù)校物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)大綱中多個電學(xué)實(shí)驗(yàn)的要求而成。
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液體電導(dǎo)率測量實(shí)驗(yàn)儀型號;HAD-FD-LCM-A
液體電導(dǎo)率測量實(shí)驗(yàn)儀型號;HAD-FD-LCM-A HAD-FD-LCM-A液體電導(dǎo)率測量實(shí)驗(yàn)儀是種物理思想其豐富,實(shí)驗(yàn)方法巧妙,實(shí)驗(yàn)動手能力訓(xùn)練內(nèi)容多,并有實(shí)際應(yīng)用價值的基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)儀器。
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微機(jī)型靜電場描繪實(shí)驗(yàn)儀型號;HAD-FD-EFL-A
微機(jī)型靜電場描繪實(shí)驗(yàn)儀型號;HAD-FD-EFL-A 在程上,常常需要知道電系統(tǒng)的電場分布情況,以便研究電子或帶電質(zhì)點(diǎn)在該電場中的運(yùn)動規(guī)律。例如,為了研究電子束在示波管中的聚焦和偏轉(zhuǎn),這就需要知道示波管中電電場的分布情況。
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光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀型號;HAD-FD-MOE
光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀型號;HAD-FD-MOE 它可以做多種重要而基本的幾何光學(xué)和物理光學(xué)實(shí)驗(yàn),例如光偏振實(shí)驗(yàn),固體介質(zhì)折射率測定實(shí)驗(yàn),透鏡焦距測定實(shí)驗(yàn),單絲、單縫、小孔衍射實(shí)驗(yàn),太陽能電池基本性測定實(shí)驗(yàn)等等。
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光偏振實(shí)驗(yàn)儀 型號;HAD-FD-OE-2
光偏振實(shí)驗(yàn)儀 型號;HAD-FD-OE-2 光的偏振現(xiàn)象是波動光學(xué)中種重要現(xiàn)象,它在諸如光調(diào)制器、光開關(guān)、應(yīng)力分析、光信息處理、光通訊、激光儀及光電子器件等方面有著廣泛的應(yīng)用。
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單絲和單縫衍射實(shí)驗(yàn)儀型號;HAD-FD-OE-5
單絲和單縫衍射實(shí)驗(yàn)儀型號;HAD-FD-OE-5 單絲、單縫和小孔衍射實(shí)驗(yàn)是校理科基本光學(xué)實(shí)驗(yàn)之。本儀器用半導(dǎo)體激光器為光源,觀察單絲、單縫和圓孔的夫瑯和費(fèi)衍射現(xiàn)象,以及絲徑、縫寬、孔徑的變化對衍射的影響,加深對光的衍射理論的理解,并利用衍射花樣測定單絲的直徑和單縫寬度。
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雙棱鏡光干涉實(shí)驗(yàn)儀 型號;HAD-FD-FBI-B
雙棱鏡光干涉實(shí)驗(yàn)儀 型號;HAD-FD-FBI-B 1826年法家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將束相干光的波前分成兩分,形成分波面干涉,利用測量干涉條紋間距(毫米量),求得光的波長(納米量)。此光干涉實(shí)驗(yàn)的物理思想、實(shí)驗(yàn)方法與測量巧,具有很深的教學(xué)價值。
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